電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數(shù)測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統(tǒng)、熱刺激電流測量系統(tǒng)
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產(chǎn)品詳細頁
新款GCSTD系列 低頻介電常數(shù)測試儀

新款GCSTD系列 低頻介電常數(shù)測試儀

  • 產(chǎn)品型號:GCSTD-D
  • 更新時間:2024-10-21
  • 產(chǎn)品介紹:新款GCSTD系列 低頻介電常數(shù)測試儀滿足標準:
    GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
    GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
    ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產(chǎn)品介紹

V、1測試信號電平監(jiān)視功能

圖形掃描分析功能

20組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存/讀取

內(nèi)建比較器,10檔分選及計數(shù)功能

多種通訊接口方便用戶聯(lián)機使用

2m/4m測試電纜擴展(選件)

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序


測試材料:

無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件

等的陽抗參數(shù)評估和性能分析。

半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析


品質(zhì):對產(chǎn)品的精益追求+嚴格規(guī)范的測試


價格:科學(xué)的管理成本+高效率合作降低成本

新款GCSTD系列 低頻介電常數(shù)測試儀

客戶:大中院校+科研機構(gòu)+質(zhì)檢部門+實驗室等


價值:為客戶提供好的產(chǎn)品+好的服務(wù)


理念:天的質(zhì)量就是明天的市場


公司所供產(chǎn)品均按照標準化研發(fā) 、嚴格測試并檢驗合格后才出廠的,質(zhì)量和服務(wù)優(yōu)質(zhì),質(zhì)優(yōu)價廉。


公司真誠歡迎全國朋友來電來函洽談業(yè)務(wù)?。〔㈩A(yù)祝合作愉快??!可根據(jù)客戶的不同需求開發(fā)標準、非標準設(shè)備


源于精測  精品搖籃 之選  自強不息  厚德載物  厚積薄發(fā) 高速增長


新款GCSTD系列 低頻介電常數(shù)測試儀

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S 

 D 0.0001 ~ 9.9999 

 Q 0.0001 ~ 99999 

 θ -179.99°~ 179.99° 

測量速度 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零,負載校準 









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