產(chǎn)品介紹

全自動(dòng)真密度儀原理

應(yīng)用阿基米德原理—氣體膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)測(cè)定樣品的真實(shí)體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。

圖31真密度儀工藝原理流程圖

氣體膨脹置換法是以氣體取代液體測(cè)定樣品所排出的體積。此法排除了浸液法對(duì)樣品溶解的可能性，具有不損壞樣品的優(yōu)點(diǎn)。因?yàn)闅怏w能深入樣品中極小的孔隙和表面的不規(guī)則空陷，因此測(cè)出的樣品體積更接近樣品的真實(shí)體積，從而可以用來(lái)計(jì)算樣品的密度，測(cè)試值也更接近樣品的真實(shí)密度。

儀器的測(cè)試系統(tǒng)由樣品測(cè)試腔和基準(zhǔn)腔構(gòu)成。測(cè)定樣品真密度時(shí)，儀器自動(dòng)采集基準(zhǔn)腔的壓力P₁及體積V₁并記錄；將一定未知體積的樣品V樣品放入已知體積V₂的樣品測(cè)試腔，向樣品測(cè)試腔注入一定量的氣體并記錄穩(wěn)定后的壓力P₂；將樣品測(cè)試腔與基準(zhǔn)腔連通并記錄穩(wěn)定后的壓力P₃，根據(jù)平衡穩(wěn)定后的壓力值和相關(guān)已知的體積V₁、V₂即可計(jì)算出待測(cè)的樣品體積V樣品，再由樣品的質(zhì)量和體積計(jì)算出樣品的真密度。

儀器特點(diǎn)

（1）適應(yīng)塊狀、粒狀、粉狀、液體等不同樣品測(cè)量需要；

（2）自動(dòng)重復(fù)測(cè)量狀態(tài)可進(jìn)行重復(fù)運(yùn)行；

（3）壓力平衡時(shí)間可根據(jù)用戶(hù)自行設(shè)定，設(shè)置靈活；

（4）分析運(yùn)行一次的時(shí)間僅幾分鐘；

（5）對(duì)于用戶(hù)選擇的循環(huán)次數(shù)和定時(shí)的清洗，樣品準(zhǔn)備/清洗狀態(tài)有脈沖信號(hào)（加壓/減壓）；

（6）自帶RS485、RJ45和微型打印機(jī)，以便于把數(shù)據(jù)傳到打印機(jī)（TMS型號(hào)）或PC上（PNS型號(hào)）；

（7）有用戶(hù)可選的*壓力，可消除分析樣品變形所帶來(lái)的危害；

（8）自動(dòng)打印數(shù)據(jù)報(bào)告（TMS款），包括分析結(jié)果的統(tǒng)計(jì)，樣品號(hào)和運(yùn)行條件。

新款全自動(dòng)真密度測(cè)定儀全自動(dòng)真密度儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

(1) 集成式模塊：電磁閥、傳感器、樣品池采用一體化設(shè)計(jì)，減少死體積，結(jié)構(gòu)緊湊，密封性好；

(2) 溫場(chǎng)均勻技術(shù)：采用無(wú)管路模塊化設(shè)計(jì)，環(huán)境溫度與模塊溫度保持平衡，氣體溫場(chǎng)均勻；

(3) 智能算法：壓力智能探測(cè)，流量控制穩(wěn)定，*限度減小外界氣瓶壓力波動(dòng)的影響；

(4) 腳本設(shè)計(jì)：高級(jí)用戶(hù)可根據(jù)測(cè)試需求更改腳本，自行設(shè)計(jì)操作流程；

(5) 打印功能：（TMS版）設(shè)計(jì)了測(cè)試結(jié)果輸出功能，方便用戶(hù)結(jié)果存檔與數(shù)據(jù)備份，包括電子數(shù)據(jù)與文檔數(shù)據(jù)；

(6) 流程指示：采用C語(yǔ)言開(kāi)發(fā)的嵌入式軟件，操作流程清晰，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)詳盡；

(7) 24位采集精度：底層數(shù)據(jù)采集采用24位AD模塊；

(8) 標(biāo)樣分析：可提供PVC、鋁、銅材質(zhì)進(jìn)行密度標(biāo)定；

(9) 科技外觀：外觀結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔流暢，造型新穎時(shí)尚，極富科技感。

新款全自動(dòng)真密度測(cè)定儀即用它的爬電距離（以mm計(jì)）除以34.6的值（相當(dāng)于爬電比距20mm/kV,以相間電壓計(jì)算），允許偏差±5%。所有的鹽霧噴嘴應(yīng)在使用中。通過(guò)調(diào)樣霧（噴•嘴的位置:和流速），使在4h內(nèi)測(cè)站的大峰值電流（每分鐘記錄的大值）的均值在100mA?120mA范圍內(nèi)可以允許有長(zhǎng)30min的泄漏電流確立時(shí)間，且不包含在校定中。這適用于所有的試驗(yàn)位置。每•個(gè)試驗(yàn)位鈴可以分別校定?；蛄硪环N方法，可以在每一個(gè)試驗(yàn)位置放置一個(gè)參考絕緣了-，使得所冇試驗(yàn)位置同時(shí)并獨(dú)、'，地被校定。如果試驗(yàn)位置是單獨(dú)校定，校定結(jié)果應(yīng)被重復(fù)，以確保初始位置霧的修IE不會(huì)影響鄰近的試驗(yàn)位置。相同設(shè)計(jì)的試品應(yīng)在一起評(píng)估。試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)注明和記錄閃絡(luò)和跳閘的次數(shù)。

當(dāng)兩個(gè)試樣如下時(shí)，a）無(wú)起痕發(fā)生（使用IkV或更高直流電壓的兆歐表沿可疑痕跡檢查。電極間隔5mm?10mm。如電阻小于2MQ,則判定不合格）；b）對(duì)于復(fù)合絕緣子,蝕損深度小于3mm,且不能到達(dá)芯體（當(dāng)適用時(shí)）；c）對(duì)于樹(shù)脂絕緣子,蝕損深度小于3mm；d）傘、傘套或者界面未發(fā)生擊穿。盡管本標(biāo)準(zhǔn)中描述的幾種起痕與蝕損試驗(yàn)方法在文獻(xiàn)中可能經(jīng)常被稱(chēng)為“老化試驗(yàn)"，但指出它們?cè)谝欢ㄒ饬x上不是加速老化試驗(yàn)很重要。因?yàn)檫@些試驗(yàn)既不能模擬確切的降低實(shí)際使用壽命的條件，也不能通過(guò)短時(shí)間的加速給出一個(gè)壽命的等伉試驗(yàn)…而所使用的持續(xù)的、循環(huán)的或組合的應(yīng)力，是要試圖努力發(fā)現(xiàn)可能危及絕緣子運(yùn)行性能的潛在薄弱點(diǎn)。這些相關(guān)的試驗(yàn)（9.3.3,附錄A,附錄B）好被描為篩選試驗(yàn)