產(chǎn)品介紹

全自動真密度儀原理

應用阿基米德原理—氣體膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過測定由于樣品測試腔放入樣品所引起的樣品測試腔氣體容量的減少來測定樣品的真實體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實體積。

圖31真密度儀工藝原理流程圖

氣體膨脹置換法是以氣體取代液體測定樣品所排出的體積。此法排除了浸液法對樣品溶解的可能性，具有不損壞樣品的優(yōu)點。因為氣體能深入樣品中極小的孔隙和表面的不規(guī)則空陷，因此測出的樣品體積更接近樣品的真實體積，從而可以用來計算樣品的密度，測試值也更接近樣品的真實密度。

儀器的測試系統(tǒng)由樣品測試腔和基準腔構(gòu)成。測定樣品真密度時，儀器自動采集基準腔的壓力P₁及體積V₁并記錄；將一定未知體積的樣品V樣品放入已知體積V₂的樣品測試腔，向樣品測試腔注入一定量的氣體并記錄穩(wěn)定后的壓力P₂；將樣品測試腔與基準腔連通并記錄穩(wěn)定后的壓力P₃，根據(jù)平衡穩(wěn)定后的壓力值和相關(guān)已知的體積V₁、V₂即可計算出待測的樣品體積V樣品，再由樣品的質(zhì)量和體積計算出樣品的真密度。

儀器特點

（1）適應塊狀、粒狀、粉狀、液體等不同樣品測量需要；

（2）自動重復測量狀態(tài)可進行重復運行；

（3）壓力平衡時間可根據(jù)用戶自行設(shè)定，設(shè)置靈活；

（4）分析運行一次的時間僅幾分鐘；

（5）對于用戶選擇的循環(huán)次數(shù)和定時的清洗，樣品準備/清洗狀態(tài)有脈沖信號（加壓/減壓）；

（6）自帶RS485、RJ45和微型打印機，以便于把數(shù)據(jù)傳到打印機（TMS型號）或PC上（PNS型號）；

（7）有用戶可選的*壓力，可消除分析樣品變形所帶來的危害；

（8）自動打印數(shù)據(jù)報告（TMS款），包括分析結(jié)果的統(tǒng)計，樣品號和運行條件。

新款全自動真密度測定儀全自動真密度儀產(chǎn)品優(yōu)點

(1) 集成式模塊：電磁閥、傳感器、樣品池采用一體化設(shè)計，減少死體積，結(jié)構(gòu)緊湊，密封性好；

(2) 溫場均勻技術(shù)：采用無管路模塊化設(shè)計，環(huán)境溫度與模塊溫度保持平衡，氣體溫場均勻；

(3) 智能算法：壓力智能探測，流量控制穩(wěn)定，*限度減小外界氣瓶壓力波動的影響；

(4) 腳本設(shè)計：高級用戶可根據(jù)測試需求更改腳本，自行設(shè)計操作流程；

(5) 打印功能：（TMS版）設(shè)計了測試結(jié)果輸出功能，方便用戶結(jié)果存檔與數(shù)據(jù)備份，包括電子數(shù)據(jù)與文檔數(shù)據(jù)；

(6) 流程指示：采用C語言開發(fā)的嵌入式軟件，操作流程清晰，數(shù)據(jù)實時詳盡；

(7) 24位采集精度：底層數(shù)據(jù)采集采用24位AD模塊；

(8) 標樣分析：可提供PVC、鋁、銅材質(zhì)進行密度標定；

(9) 科技外觀：外觀結(jié)構(gòu)簡潔流暢，造型新穎時尚，極富科技感。

新款全自動真密度測定儀即用它的爬電距離（以mm計）除以34.6的值（相當于爬電比距20mm/kV,以相間電壓計算），允許偏差±5%。所有的鹽霧噴嘴應在使用中。通過調(diào)樣霧（噴•嘴的位置:和流速），使在4h內(nèi)測站的大峰值電流（每分鐘記錄的大值）的均值在100mA?120mA范圍內(nèi)可以允許有長30min的泄漏電流確立時間，且不包含在校定中。這適用于所有的試驗位置。每•個試驗位鈴可以分別校定?；蛄硪环N方法，可以在每一個試驗位置放置一個參考絕緣了-，使得所冇試驗位置同時并獨、'，地被校定。如果試驗位置是單獨校定，校定結(jié)果應被重復，以確保初始位置霧的修IE不會影響鄰近的試驗位置。相同設(shè)計的試品應在一起評估。試驗報告中應注明和記錄閃絡(luò)和跳閘的次數(shù)。

當兩個試樣如下時，a）無起痕發(fā)生（使用IkV或更高直流電壓的兆歐表沿可疑痕跡檢查。電極間隔5mm?10mm。如電阻小于2MQ,則判定不合格）；b）對于復合絕緣子,蝕損深度小于3mm,且不能到達芯體（當適用時）；c）對于樹脂絕緣子,蝕損深度小于3mm；d）傘、傘套或者界面未發(fā)生擊穿。盡管本標準中描述的幾種起痕與蝕損試驗方法在文獻中可能經(jīng)常被稱為“老化試驗"，但指出它們在一定意義上不是加速老化試驗很重要。因為這些試驗既不能模擬確切的降低實際使用壽命的條件，也不能通過短時間的加速給出一個壽命的等伉試驗…而所使用的持續(xù)的、循環(huán)的或組合的應力，是要試圖努力發(fā)現(xiàn)可能危及絕緣子運行性能的潛在薄弱點。這些相關(guān)的試驗（9.3.3,附錄A,附錄B）好被描為篩選試驗